Systèmes électro-optiques

Les positions françaises acceptées par les pays membres présents : Allemagne, États-Unis et Japon.

Le sous-comité international ISO/TC 172/SC 9 s'est réuni à Boulder, du 20 au 22 septembre 2017, invité par la délégation américaine dans les locaux du NIST. Parmi les sujets à l'ordre du jour, la France avait un fort intérêt pour les méthodes d'essai. En premier lieu, la mesure angulaire de la diffusion lumineuse, sujet actuellement en étude préliminaire, pour lequel les remarques portées par la délégation française ont toutes été acceptées. Cette future norme décrira les procédures pour la détermination de la diffusion au moyen de composants tels que les éléments optiques revêtus ou non revêtus, les structures photoniques et les matériaux transparents, translucides ou opaques. Elle s'appliquera aux longueurs d'onde de la lumière allant de l'ultraviolet extrême à l'infrarouge.

Ensuite, la révision des normes concernant les méthodes d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser (ISO 21254 parties 1 à 3) a fait débat. Ces normes traitent respectivement des définitions et principes de base, de la détermination du seuil et des possibilités de traitement par puissance (énergie) laser. L'implication française dans les discussions a spécialement porté sur le traitement des particules d'ablation et de la poussière. De nombreuses divergences restent encore à résoudre. Des essais supplémentaires seront menés.

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